Wykład prof. Janusza Rajskiego pt. Testowanie układów VLSI - Wydarzenia - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wykład prof. Janusza Rajskiego pt. Testowanie układów VLSI

Na wykład zapraszają Katedra Metrologii i Optoelektroniki, Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej oraz IEEE Computer Society, Chapter Gdańsk (C16 Gdańsk).

Profesor Janusz Rajski jest absolwentem Politechniki Gdańskiej. W latach 80-tych rozpoczął pracę w Department of Electrical Engineering Uniwersytetu McGill w Montrealu. Prowadził tam wykłady m.in. z projektowania układów i systemów cyfrowych oraz testowania układów cyfrowych wielkiej skali integracji. Współpracował m. in. Z Bell Northern Research, Bell Canada, IBM, czy Canadian Microelectronics Corporation. Od roku1995 profesor jest zatrudniony w firmie Mentor, a Siemens Business, gdzie jest odpowiedzialny za opracowywanie i wdrażanie nowych technologii testowania układów scalonych. Z jego inicjatywy w roku 2008 otwarto w Poznaniu oddział badawczo-rozwojowy tej firmy.

Informacje szczegółowe

Data rozpoczęcia:
09-10-2017 13:15
Data zakończenia:
09-10-2017 14:30
Kategoria:
Nauka
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 25 razy