Amplitude-distance spectroscopy in semi-contact mode

Opis

Since it was invented by Binnig et al. in 1986, atomic force microscopy (AFM) plays a key role in science and technology at the nanoscale. AFM is a microscopic technique that visualizes the surface topography using the attractive and repulsive forces of interaction between several atoms (in theory) of a blade attached to the end of the probe lever and the surface of the material being tested. In the case of attractive forces, there are three main drivers of AFM. These are short-range chemical forces, van der Waals force, and electrostatic force. Since the effective ranges of these forces vary, one of them dominates depending on the distance. Atomic force spectroscopy is the measurement of force versus distance using the AFM. The intensity of the impact can be measured indirectly in the form of deformation of the lever caused by the applied force or a change in the oscillation nature of the lever set in motion by a piezoelectric actuator. In practical applications, interesting information can be provided by measuring the relationship of oscillation amplitude versus probe-sample distance. One of them may be, for example, the actual value of the oscillation amplitude of the lever, because usually the apparatus gives it in the form of a current or voltage appearing at the output of the photodetector. The exemplary data contained in this collection showed that the real amplitude of the oscillations was 34 nm. The file contains 4 images, 2 sets of curves. Measurements were made using NSG30 probes.

Reference:

[1] Y. Seo, W. Jhe, Atomic force microscopy and spectroscopy, Rep. Prog. Phys. 71 (2008) 016101, DOI:10.1088/0034-4885/71/1/016101

Plik z danymi badawczymi

Set9.mdt

930.2 kB, S3 ETag 2e60bd392dafd6167dc4d0ac32ce3bb4-1, pobrań: 22

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:: Gwyddion

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2021

Data zatwierdzenia:

2021-08-06

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

DOI:

10.34808/6tep-7648

Seria:

Scanning Probe Microscopies data

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 99 razy

Wyszukiwarka