Graphene oxide thin films deposited on a PCB board - chemical analysis - Open Research Data - MOST Wiedzy

Twoje konto

zaloguj

Wyszukiwarka

Graphene oxide thin films deposited on a PCB board - chemical analysis

Opis

Graphene oxides based films were measured by  X-ray photoemission spectroscopy (XPS) method. TheXPS measurements were carried out with the Omicron NanoTechnology UHV equipment. The hemispherical spectrophotometer was equipped with a 128-channel collector. The XPS measurements were performed at room temperature at a pressure below 1.1 × 10−8 mBar. The photoelectrons were excited by an Mg-Kα X-Ray source. The X-ray source was operated at 15 kV and a power of 300 W. Obtained results were analyzed by CasaXPS software. For measurements thin films deosited on a PCB board of the pure graphene oxide (GO), reduced graphene oxide (rGO) and functionalized by S and N elements graphene oxide were selected. Nitrogen doped graphene oxide was synthesized by the hydrthermal method. O1s, C1s, N1s and S2phigh resolution spectra were recorded.

Plik z danymi badawczymi

XPS on PCB.opj
3.2 MB, S3 ETag b39c7868848b7f8d2c437cbf7f45b22e-1, pobrań: 36
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Oprogramowanie:
origin

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2021
Data zatwierdzenia:
2021-07-20
Data wytworzenia:
2019
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/jkqt-rz26 otwiera się w nowej karcie
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 113 razy