SEM micrographs of morphology evolution of V2O5 thin films on silicon substrate - Open Research Data - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

SEM micrographs of morphology evolution of V2O5 thin films on silicon substrate

Opis

The DataSet contains the scanning electron microscopy (SEM) micrographs of V2O5 thin films deposited on a silicon substrate. The as-prepared thin films were annealing under an oxidizing atmosphere in the temperature range 250-600C. The results show that the morphology of the films dependent on the annealing temperature.

The surface morphologies of the samples were studied by an FEI Company Quanta FEG 250 scanning electron microscope (SEM) (Waltham, MA, USA),  mounting the analyzed sample on a carbon conductive tape. 

These results are part of a project defined in the Journal of Nanomaterials. In this paper, the information about samples and synthesis details are reported.  

 

 

Plik z danymi badawczymi

Si.zip
118.2 MB, S3 ETag 23135eb90ad7991f8b7076678693bf18-1, pobrań: 62
Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
pobierz plik Si.zip

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:
Creative Commons: by 4.0 otwiera się w nowej karcie
CC BY
Uznanie autorstwa
Dane surowe:
Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:
2015
Data zatwierdzenia:
2021-05-25
Język danych badawczych:
angielski
Dyscypliny:
  • inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
DOI:
Identyfikator DOI 10.34808/7wm2-g020 otwiera się w nowej karcie
Seria:
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Powiązane zasoby

Cytuj jako

wyświetlono 97 razy