SWM for porous hierarchical nanocarbons composites

Opis

Raw Raman spectra and XRD diffractograms (background subtracted) of 13 among which carbon-derived secondary waste and reference materials.

Raman spectra were collected measured using a commercial Raman microscope (LabRam Aramis, Horiba) with excitation by a 632.8 nm HeNe laser with up to 20 mW, integration time of 5 s (20 averages); 300 lines per mm diffraction grating.

XRD diffractograms were using BRUKER D2PHASER equipment with Cu Kα radiation (lambda = 1.54 Å), operating at 30 kV and 10 mA. The XRD patterns were collected using a scan step of 0.02° and a count time of 0.4 s per step.

Sample ID is reported in the attached file.

Plik z danymi badawczymi

CSWM.zip

653.0 kB, S3 ETag a4c045c35187dcd3b2f0db0fe5c516b3-1, pobrań: 54

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC BY

Uznanie autorstwa
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2024

Data zatwierdzenia:

2024-02-23

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

automatyka, elektronika, elektrotechnika i technologie kosmiczne (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)

DOI:

10.34808/ynj6-6r28

Finansowanie:

Przetwarzanie wtórnych materiałów odpadowych w zoptymalizowane topologicznie hierarchicznie porowate kompozyty w celu dostosowania ścieżki degradacji elektrochemicznej trwałych zanieczyszczeń organicznych

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

Mattia Pierpaoli PhD
Katedra Metrologii i Optoelektroniki
numer orcid 0000-0002-7508-1824otwiera się w nowej karcie
Twórca

wyświetlono 107 razy

Wyszukiwarka