Wyszukiwarka
The AFM micrographs of vanadium oxides thin films deposited on quartz glass - the influence of the thickness of the thin film on its morphology
Opis
The DataSet contains the atomic force microscope images of the surface of vanadium oxide thin films. The thin films were obtained by the sol-gel method. The information about sol synthesis is described in the Journal of Nanomaterials. The thin films with different thicknesses (1, 2 or 3 AsP layers) were deposited on a quartz glass substrate and were annealing at 300°C under synthetic air.
A Nanosurf Easyscan 2 AFM atomic force microscopy was used to examine the morphology of thin films.
Plik z danymi badawczymi
Thickness quartz glass.zip
17.2 MB,
S3 ETag
bbf5636befef35bd7e0e3388436902ea-1,
pobrań: 46
Hash pliku liczony jest ze wzoru
Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MBPrzykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5
Informacje szczegółowe o pliku
- Licencja:
-
otwiera się w nowej karcie
CC BYUznanie autorstwa - Dane surowe:
- Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.
Informacje szczegółowe
- Rok publikacji:
- 2021
- Data zatwierdzenia:
- 2021-06-22
- Język danych badawczych:
- angielski
- Dyscypliny:
-
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- DOI:
- Identyfikator DOI 10.34808/55ed-3h95 otwiera się w nowej karcie
- Seria:
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
Słowa kluczowe
Powiązane zasoby
Cytuj jako
Autorzy
wyświetlono 101 razy