X-ray diffraction of ZnIn2S4 layers on TiO2NT and FTO annealed at different temperatures

Opis

Data show XRD results for ZnIn2S4 layers deposited using hydrothermal method on FTO glass and TiO2 nanotubes. The layers were annealed in air atmosphere at 300, 400 and 500 oC.

Plik z danymi badawczymi

XRD FTO_ZIS TiO2NT_ZIS.zip

583.0 kB, S3 ETag fc2b53eb370c1666f36dbedea8fe84b3-1, pobrań: 64

Hash pliku liczony jest ze wzoru
hexmd5(md5(part1)+md5(part2)+...)-{parts_count} gdzie pojedyncza część pliku jest wielkości 512 MB

Przykładowy skrypt do wyliczenia:
https://github.com/antespi/s3md5

pobierz

Informacje szczegółowe o pliku

Licencja:: otwiera się w nowej karcie

CC 0

Przekazanie do Domeny Publicznej
Dane surowe:: Dane zawarte w datasecie nie zostały w żaden sposób przetworzone.

Informacje szczegółowe

Rok publikacji:

2023

Data zatwierdzenia:

2023-04-17

Data wytworzenia:

2022

Język danych badawczych:

angielski

Dyscypliny:

nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)

DOI:

10.34808/04jn-xy57

Weryfikacja:

Politechnika Gdańska

Słowa kluczowe

Cytuj jako

Autorzy

wyświetlono 132 razy

Wyszukiwarka