Adaptive Scanning Algorithm Based on Neural Network Prediction of Eddy Current Testing Signals

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Kategoria:: Publikacja w czasopiśmie
Typ:: Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:: Materials Science Forum nr 670, strony 158 - 163,
ISSN: 1662-9752
ISSN:: 1662-9752
Rok wydania:: 2010
DOI:: Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.4028/www.scientific.net/msf.670.158
Weryfikacja:: Brak weryfikacji

wyświetlono 0 razy

Wyszukiwarka