Abstrakt
Pomimo dużego technologicznego zainteresowania tytanowymi kompozytami bazującymi na c-BN daje się zauważyć wyraźny brak danych dotyczących lokalnego otoczenia atomów Ti w tego typu materiałach. Główna przyczyna tego stanu rzeczy tkwi w trudności związanej z analizą układu wielofazowego o dużej twardości za pomocą konwencjonalnych metod. Praca poświęcona jest analizie składu i struktury tytanowych kompozytów za pomocą atomowo-selektywnych metod spektroskopowych:XANES (X-ray absorption near-edge spectroscopy) i XPS (X-ray photoelectron spectroscopy).
Autorzy (9)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie z listy filadelfijskiej
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2004
- Opis bibliograficzny:
- Piskorska E., Ławniczak-Jabłońska K., Demchenko I., Minikayev R., Benko E., Klimczyk P., Witkowska A., Welter E., Heinonen M.: Characterization of the c-BN/TiC, Ti3SiC2 systems by element selectivespectroscopy.// . -., (2004),
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 41 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Możliwości wykorzystania spektroskopii fotoelektronów w analizie jakości środowiska wodnego
- J. Ryl,
- T. Ossowski,
- M. Elektorowicz
- + 1 autorów
2020