High-pressure X-ray Diffraction Study of SrSi2O2N2:Eu2+ - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

High-pressure X-ray Diffraction Study of SrSi2O2N2:Eu2+

Abstrakt

Cytowania

  • 0

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 0

    Scopus

Autorzy (10)

  • Zdjęcie użytkownika  Olga Ermakova

    Olga Ermakova

  • Zdjęcie użytkownika  Wojciech Paszkowicz

    Wojciech Paszkowicz

  • Zdjęcie użytkownika  Agata Kaminska

    Agata Kaminska

  • Zdjęcie użytkownika  Justyna Barzewska

    Justyna Barzewska

  • Zdjęcie użytkownika  Marek Grinberg

    Marek Grinberg

  • Zdjęcie użytkownika  Malgorzata Nowakowska

    Malgorzata Nowakowska

  • Zdjęcie użytkownika  Roman Minikayev

    Roman Minikayev

  • Zdjęcie użytkownika  Ru-Shi Liu

    Ru-Shi Liu

  • Zdjęcie użytkownika  Andrzej Suchocki

    Andrzej Suchocki

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
Acta Crystallographica A-Foundation and Advances nr 70, wydanie a1, strony C761 - C761,
ISSN: 2053-2733
ISSN:
2053-2733
Rok wydania:
2014
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1107/s2053273314092389
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 67 razy

Meta Tagi