Wyszukiwarka
Immunity of residual current devices to the impulse leakage current in circuits with variable speed drives
Abstrakt
This paper concerns reliability of supply in variable speed drive circuits with residual current devices. During normal operation of these circuits high value of leakage current causes unwanted tripping of residual current devices. Immunity of residual current devices to the impulse leakage current should be evaluated. The system for testing of residual current devices and results of the test are presented
Cytowania
-
6
CrossRef
-
0
Web of Science
-
8
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 0 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.5755/j01.eee.19.8.2883
- Licencja
-
otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
Elektronika Ir Elektrotechnika
nr 19,
strony 15 - 18,
ISSN: 1392-1215 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2013
- Opis bibliograficzny:
- Czapp S., Borowski K.: Immunity of residual current devices to the impulse leakage current in circuits with variable speed drives// Elektronika Ir Elektrotechnika. -Vol. 19, nr. 8 (2013), s.15-18
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.5755/j01.eee.19.8.2883
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 112 razy