Wyszukiwarka
Abstrakt
Przedstawiono sposób usunięcia zakłóceń pojawiających się na obrazach uzyskiwanych z mikroskopu sił atomowych (AFM). Przybliżono kilka metod stosowanych do redukcji zakłóceń w obrazach. Następnie opisano zidentyfikowane zakłócenia harmoniczne oraz zaproponowany sposób ich znaczącej redukcji. W pracy zamieszczono szereg obrazów uzyskanych z mikroskopu AFM ilustrujących efekty powodowane zakłóceniami oraz skuteczność zaproponowanej metody.
Cytowania
-
0
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1
Scopus
Autorzy (4)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
MICROSCOPY AND MICROANALYSIS
nr 18,
strony 186 - 195,
ISSN: 1431-9276 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2012
- Opis bibliograficzny:
- Kiwilszo M., Zieliński A., Smulko J., Darowicki K.: Improving AFM images with harmonic interference by spectral analysis// MICROSCOPY AND MICROANALYSIS. -Vol. 18, nr. Iss. 1 (2012), s.186-195
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1017/s1431927611012281
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 83 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Decoding of the FSK signal with noise and distortion with the use of coefficients of the time-frequency transform.
- D. Rabczuk,
- B. Pałczyńska,
- L. Spiralski
2004