Abstrakt
W artykule przedstawiono wyniki pomiaró szumów cz. wstecznie spolaryzowanych diod Schottky'ego.
Cytowania
-
1
CrossRef
-
0
Web of Science
-
1
Scopus
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- Noise and Fluctuations Twentieth International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF-2009) Pisa, Italy, 14-19 June 2009 strony 645 - 648
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2009
- Opis bibliograficzny:
- Szewczyk A., Stawarz-Graczyk B.: Low Frequency Noise Measurement of Reverse Polarized Silicon Carbide Schottky Diodes// Noise and Fluctuations Twentieth International Conference on Noise and Fluctuations (ICNF-2009) Pisa, Italy, 14-19 June 2009/ ed. eds. Massimo Macucci, Giovanni Basso. Berlin: Springer, 2009, s.645-648
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1063/1.3140557
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 62 razy