Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.

Małgorzata Szczerska; Ryszard Hypszer; Bogdan Kosmowski

Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.

Abstrakt

W artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.

Autorzy (3)

Małgorzata Szczerska prof. dr hab. inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Ryszard Hypszer dr inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Bogdan Kosmowski dr hab. inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:: Aktywność konferencyjna
Typ:: publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:: polski
Rok wydania:: 2004
Opis bibliograficzny:: Jędrzejewska-Szczerska M., Hypszer R., Kosmowski B.: Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.// / : , 2004,
Weryfikacja:: Politechnika Gdańska