Podejście samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A
Abstrakt
..
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- VI Kongres Metrologii : Metrologia królową badań stosowanych strony 321 - 322
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2013
- Opis bibliograficzny:
- Czaja Z.: Podejście samotestowania części analogowych elektronicznych systemów wbudowanych z wykorzystaniem mikrokontrolerów rodziny XMEGA A// VI Kongres Metrologii : Metrologia królową badań stosowanych/ Kielce: Politechnika Świętokrzyska, 2013, s.321-322
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 48 razy