Resistance noise in tio2-based thin film gas sensors underultraviolet irradiation - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Resistance noise in tio2-based thin film gas sensors underultraviolet irradiation

Abstrakt

Badano możliwości wykorzystania fluktuacji rezystancji w cienkich warstwach TiO2 do wykrywania gazów. Pomiary przeprowadzono, gdy próbka była oświetlona promieniowaniem ultrafioletowym o długości 370nm, w obecności gazu H2S. Stwierdzono, że fluktuacje rezystancji są indukowane promieniowaniem ultrafioletowym i pozwalają na wykrycie obecności H2S w stężeniu do 1.5 ppm.

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
artykuły w czasopismach dostępnych w wersji elektronicznej [także online]
Język:
angielski
Rok wydania:
2007
Weryfikacja:
Politechnika Gdańska

wyświetlono 82 razy

Publikacje, które mogą cię zainteresować

Meta Tagi