Abstrakt
Badano możliwości wykorzystania fluktuacji rezystancji w cienkich warstwach TiO2 do wykrywania gazów. Pomiary przeprowadzono, gdy próbka była oświetlona promieniowaniem ultrafioletowym o długości 370nm, w obecności gazu H2S. Stwierdzono, że fluktuacje rezystancji są indukowane promieniowaniem ultrafioletowym i pozwalają na wykrycie obecności H2S w stężeniu do 1.5 ppm.
Autorzy (4)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach dostępnych w wersji elektronicznej [także online]
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2007
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 82 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Application of nonlinearity measures to chemical sensor signals
- J. Smulko,
- L. B. Kish,
- G. Schmera
2003
Fluctuation phenomena in semiconductor gas sensors
- L. Hasse,
- J. Smulko,
- L. Spiralski
- + 1 autorów
2006
Gas sensing by resistance fluctuations in PdxWO3 nanoparticle films.
- J. Ederth,
- J. Smulko,
- L. B. Kish
- + 3 autorów
2004