Small signal admittance spectroscopy applied for extraction of charge carrier mobility in thin organic layers
Abstrakt
Praca przedstawia nowy sposób wyznaczania ruchliwości nośników ładunku w cienkich warstwach organicznych w oparciu o pomiary widm małosygnałowej admitancji.
Cytowania
-
6
CrossRef
-
0
Web of Science
-
6
Scopus
Autorzy (2)
Cytuj jako
Pełna treść
pobierz publikację
pobrano 34 razy
- Wersja publikacji
- Accepted albo Published Version
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.2478/s11772-011-0044-0
- Licencja
- otwiera się w nowej karcie
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuł w czasopiśmie wyróżnionym w JCR
- Opublikowano w:
-
OPTO-ELECTRONICS REVIEW
nr 19,
strony 474 - 477,
ISSN: 1230-3402 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2011
- Opis bibliograficzny:
- Jarosz G., Signerski R.: Small signal admittance spectroscopy applied for extraction of charge carrier mobility in thin organic layers// OPTO-ELECTRONICS REVIEW. -Vol. 19, nr. Iss. 4 (2011), s.474-477
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.2478/s11772-011-0044-0
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 96 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Nitrogen speciation in wastewater treatment plant influents and effluents - the US and Polish case studies
- K. Pagilla,
- K. Czerwionka,
- M. Urgun-Demirtas
- + 1 autorów
2007