Wyszukiwarka
Spectral reflectance modeling of ZnO layers made with Atomic Layer Deposition for application in optical fiber Fabry-Perot interferometric sensors
Abstrakt
Suitability of zinc oxide (ZnO) layers grown using Atomic Layer Deposition for operation in optical-fiber extrinsic Fabry-Perot sensors is investigated using a numerical model. Reflectance spectra obtained using the developed model indicate that the application of these layers in optical-fiber extrinsic Fabry-Perot sensors is difficult as it may require a source whose spectrum width is about 300 nm. A series of ZnO layers grown on end faces of SMF-28 fiber were prepared and their reflectance spectra were recorded by an optical spectrum analyser in order to verify the modelling results. The spectra contain a series of peaks not predicted by the model, which is attributed to two-mode propagation in the SMF-28 fiber connecting the ZnO layer with the rest of the measurement system.
Cytowania
-
2
CrossRef
-
0
Web of Science
-
0
Scopus
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- materiały konferencyjne indeksowane w Web of Science
- Tytuł wydania:
- 2nd International Symposium on Optics and Biophotonics / Saratov Fall Meeting (SFM) strony 1 - 2
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2015
- Opis bibliograficzny:
- Wierzba P., Jędrzejewska-Szczerska M..: Spectral reflectance modeling of ZnO layers made with Atomic Layer Deposition for application in optical fiber Fabry-Perot interferometric sensors, W: 2nd International Symposium on Optics and Biophotonics / Saratov Fall Meeting (SFM), 2015, SPIE-INT SOC OPTICAL ENGINEERING, 1000 20TH ST, PO BOX 10, BELLINGHAM, WA 98227-0010 USA,.
- DOI:
- Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1117/12.2179963
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 113 razy