Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators - Publikacja - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Terahertz imaging of Landau levels in HgTe-based topological insulators

Abstrakt

Cytowania

  • 1 4

    CrossRef

  • 0

    Web of Science

  • 1 5

    Scopus

Autorzy (13)

  • Zdjęcie użytkownika  Aleksandr Kadykov

    Aleksandr Kadykov

  • Zdjęcie użytkownika  Jeremie Torres

    Jeremie Torres

  • Zdjęcie użytkownika  Sergey Krishtopenko

    Sergey Krishtopenko

  • Zdjęcie użytkownika  Christophe Consejo

    Christophe Consejo

  • Zdjęcie użytkownika  Sandra Ruffenach

    Sandra Ruffenach

  • Zdjęcie użytkownika  Michal Marcinkiewicz

    Michal Marcinkiewicz

  • Zdjęcie użytkownika  Dmytro But

    Dmytro But

  • Zdjęcie użytkownika  Wojciech Knap

    Wojciech Knap

  • Zdjęcie użytkownika  Sergey Morozov

    Sergey Morozov

  • Zdjęcie użytkownika  Vladimir Gavrilenko

    Vladimir Gavrilenko

  • Zdjęcie użytkownika  Nikolai Mikhailov

    Nikolai Mikhailov

  • Zdjęcie użytkownika  Sergey Dvoretsky

    Sergey Dvoretsky

  • Zdjęcie użytkownika  Frederic Teppe

    Frederic Teppe

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Informacje szczegółowe

Kategoria:
Publikacja w czasopiśmie
Typ:
Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:
APPLIED PHYSICS LETTERS nr 108, wydanie 26,
ISSN: 0003-6951
ISSN:
0003-6951
Rok wydania:
2016
DOI:
Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1063/1.4955018
Weryfikacja:
Brak weryfikacji

wyświetlono 3 razy

Meta Tagi