Abstrakt
W kontekście oscylacyjnej metody testowania zaproponowano prostą i mało kosztowną metodę testowania oscylatorów poprzez porównanie fragmentu generowanego przebiegu z wzorcowym przebiegiem sinusoidalnym. Metoda bazuje na odejmowaniu dwu sygnałów zmodulowanych techniką sigma-delta za pomocą subtraktora wykorzystujacego nadpróbkowanie i kształtowanie szumów. Sygnaturą uszkodzeń jest wartość średnia 1 bitowego strumienia danych, wyznaczana za pomocą licznika rewersyjnego. Wyniki symulacji uzyskane na przykładzie oscylatora Van der Pola wykazują, że proponowana sygnatura jest wrażliwa na odchyłki częstotliwości i amplitudy drgań, a także wykrywa oscylacje nieliniowe.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2005
- Opis bibliograficzny:
- Toczek W.: Testing oscillators by waveform comparison with the ideal sine-wave // / : , 2005,
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 79 razy
Publikacje, które mogą cię zainteresować
Analiza drgań struny gitarowej z użyciem szybkich kamer
- P. Szczuko,
- J. Kotus,
- M. Szczodrak
- + 2 autorów