Wyszukiwarka
Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych
Abstrakt
Przedstawiono wyniki badań nad wykorzystaniem magistrali testującej mieszanej sygnałowo zgodnej ze standardem IEEE 1149.4 do diagnostyki wybranych struktur analogowych. Do badań użyto wyposażonych w magistralę prototypowych układów scalonych typu STA400 opracowanych w końcu 2001 r. w firmie NationalSemiconductor i Logic Vision. Diagnostykę przeprowadzono metodą analityczną opartą na twierdzeniu Tellegena dla 3 i 5-elementowych układów rezystancyjnych. Przedstawiono metodykę testów i wyniki identyfikacji uszkodzeń. Wykonane badania wykazały, że za pomocą magistrali możliwa jest diagnostyka wybranych struktur analogowych na poziomie identyfikacji uszkodzeń. Zaprezentowano również wyniki badań właściwości metrologicznych układu STA400.
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- [Materiały] MWK´2003. VI Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo. Waplewo, 26-29 maja 2003 strony 209 - 214
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Bartosiński B.: Zastosowanie układów testowych STA 400 z magistralą testującą mieszaną sygnałowo IEEE 1149.4 do diagnostyki układów analogowych// [Materiały] MWK´2003. VI Szkoła-Konferencja Metrologia Wspomagana Komputerowo. Waplewo, 26-29 maja 2003/ Warszawa: Inst. Podst. Elektron.Wydz. Elektron. WAT, 2003, s.209-214
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 62 razy