Przedstawiono wyniki badań dawkowania zawiesiny ściernej w docieraniu powierzchni płaskich elementów ceramicznych. Analizowano wpływ dawkowania na podstawowe parametry chropowatości powierzchni ceramiki Al2O3 i Al2O3-ZrO2.

Przedstawiono badania porównawcze jakości i intensywności docierania elementów miedzianych, ceramicznych i z węglików spiekanych. Analizowano skażenie powierzchni miedzi ścierniwem oraz porównano mechanizmy usuwania materiału w przypadku obróbki metali i ceramiki.

W ramach pracy przedstawiono metodę pomiaru krzywizny śladów obróbkowych na powierzchni obrabianej w układzie docierarki jednotarczowej. Dokonano pomiaru promienia krzywizny rys (trajektorii) na powierzchni mikroszlifowanej. Wyprowadzono równania ruchu wykorzystane do analiz symulacyjnych.

W pracy przedstawiono możliwości zastosowania specjalnych narzędzi do mikroszlifowania na docierarce jednotarczowej. Jedno z zastosowanych narzędzi posiada warstwę ścierniwa diamentowego (D64) nałożoną metodą galwaniczną. Drugie przetestowane narzędzie zbudowane zostało z diamentowych pastylek ściernych (D3/2). Przedstawiono analizę kinematyczną i wyniki ubytku materiałowego oraz osiągnięte parametry chropowatości.

Przedstawiono wyniki symulacji komputerowej kinematyki docierania powierzchni płaskich w układach jednotarczowych. Analizowano układy standardowe i niekonwencjonalne. Wyznaczono drogę kontaktu elementów obrabianych z punktami tarczy docierającej w przekroju promieniowym oraz wskazano na zmiany zarysu docieraka w wyniku przemieszczenia pierścieni prowadzących i przedmiotów w separatorach.