Wyniki wyszukiwania dla: WEGLIKI SPIEKANE - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Wyniki wyszukiwania dla: WEGLIKI SPIEKANE

Najlepsze wyniki w katalogu: Potencjał Badawczy Pokaż wszystkie wyniki (12)

Wyniki wyszukiwania dla: WEGLIKI SPIEKANE

Pozostałe wyniki Pokaż wszystkie wyniki (90)

Wyniki wyszukiwania dla: WEGLIKI SPIEKANE

  • Badania jakości docierania elementów z ceramiki technicznej i węglików spiekanych na docierarce jednotarczowej.

    Publikacja

    - Rok 2015

    Przedstawiono wyniki badań docierania elementów płaskich na docierarce jednotarczowej zawiesiną z węglika krzemu. Docierano elementy z tlenkowej ceramiki technicznej Al2O3 i Al2O3-ZrO2 oraz węgliki spiekane SM25, H15X i H20S. Badano wydajność obróbki oraz chropowatość powierzchni po docieraniu. Czynnikami zmiennymi badań była prędkość docierania, nacisk jednostkowy i czas docierania.

  • Podstawy technologii selektywnego spiekania laserowego proszków polimerowych – SLS

    W pracy zaprezentowano zbiór informacji oraz praktycznych wskazówek związanych z drukowaniem elementów metodą selektywnego spiekania laserowego proszków polimerowych – SLS. Zawarte treści dotyczą omówienia zasady działania, charakterystyki poszczególnych czynników procesu oraz powszechnie stosowanych materiałów. Przedstawiono ponadto najważniejsze korzyści i ograniczenia związane z wykorzystaniem metody SLS.

    Pełny tekst do pobrania w portalu

  • Zwinne wytwarzanie oprogramowania - praktyki wspierane w środowisku IBM Jazz

    Publikacja
    • B. Chrabski

    - Rok 2011

    W artykule zostało zaproponowane wykorzystanie technologii IBM Jazz w kontekście pracy grupowej proponowanej przez zwinne metodyki takie jak Scrum czy Disciplined Agile Delivery

  • Problemy pomiarów szumów diod z węglika krzemu

    Publikacja

    - Rok 2009

    Przedstawiono system do pomiaru szumów m.cz. diod Schottky'ego wykonanych z węglika krzemu (SiC) spolaryzowanych w kierunku przewodzenia i zaporowym, z uwzględnieniem specyfiki pomiaru szumów wybuchowych (RTS). Badane diody charakteryzują się wysokim prądem przewodzenia (do 12A) i wysokim napięciem zaporowym (typowo 600V i 1200V). Omówiono zagadnienia związane ze sposobami polaryzacji badanych diod i ich wpływ na wyniki pomiarów....

  • Podejmowanie decyzji w przedsięwzięciach informatycznych wspierane systemami opartymi na wiedzy

    Publikacja

    - Rok 2006

    W pracy podjęto próbę określenia możliwości zastosowania systemów z bazami wiedzy do wspomagania podejmowania decyzji w realizacji przedsięwzięć informatycznych. Każde wdrożenie inwestycji z zakresu IT w organizacji wymaga szeregu decyzji wymagających od decydenta wiedzy zarówno technicznej, jak i ekonomicznej. Nierzadko wiedza taka jest niepełna, bądź obarczona dużym stopniem niepewności. Autorzy zakładają, że istnieje możliwość...