Katedra Metrologii i Optoelektroniki - Jednostki Administracyjne - MOST Wiedzy

Wyszukiwarka

Katedra Metrologii i Optoelektroniki

Filtry

wszystkich: 423

  • Kategoria
  • Rok
  • Opcje

wyczyść Filtry wybranego katalogu niedostępne

Katalog Publikacji

Rok 2006
Rok 2011
Rok 2004
  • Zastosowanie sondy wejściowej w komputerowym systemie pomiarowymdo spektroskopii wysokoimpedancyjnej.
    Publikacja

    - Rok 2004

    W pracy przedstawiono komputerowy system pomiarowy do spektroskopii wysokoimpedancyjnej, w którym zastosowano sondę wejściową umożliwiającą pomiary impedancji do |Zx|<100Gohm w szerokim zakresie częstotliwości od 10uHz do 100kHz. Przeanalizowano wpływ głównych źródeł niepewności na dokładność wyznaczenia modułu i argumentu zespolonego stosunku sygnałów wydzielanych w sondzie. Podano wyniki symulacji komputerowych, które pozwoliły...

  • Zastosowanie komputerów w Laboratorium Metrologii i Techniki Eksperymentu.
    Publikacja

    W artykule przedstawiono metodykę nauczania oraz aspekty techniczne nowej edycji ćwiczeń w Laboratorium Metrologii i Techniki Eksperymentu. Metodyka ta oparta jest na komputerowym monitorowaniu pracy studenta i sprawdzaniu jego wiedzy. Połączenie programowanych przyrządów laboratoryjnych w system pomiarowy sterowany za pośrednictwem komputera znacznie usprawniło wykonywanie poszczególnych ćwiczeń. Komputer kieruje działaniami studenta,...

  • Wpływ doboru parametrów źródła na rozdzielczość pomiaru w interferometrii niskokoherencyjnej.
    Publikacja

    Jednym z podstawowych elementów niskokoherencyjnego, interferometrycznego systemu pomiarowego jest szerokopasmowe źródło światła. Wybór źródła jest bardzo ważny, gdyż jego parametry mają bezpośredni wpływ na końcową jakość pomiaru. Z tego też względu wydaje się niezbędnym poznanie charakterystyk źródeł szerokopasmowych wykorzystywanych w interferometrii niskokoherencyjnej i zależności, pomiędzy parametrami źródła, a jakością pomiaru.

Rok 2010
Rok 2012
Rok 2009
Rok 2007