ISSN:
1468-6996
eISSN:
1878-5514
Disciplines
(Field of Science):
- biomedical engineering (Engineering and Technology)
- chemical engineering (Engineering and Technology)
- materials engineering (Engineering and Technology)
- mechanical engineering (Engineering and Technology)
- medical biology (Medical and Health Sciences )
- pharmacology and pharmacy (Medical and Health Sciences )
- biotechnology (Natural sciences)
- chemical sciences (Natural sciences)
- physical sciences (Natural sciences)
(Field of Science)
Ministry points: Help
Year | Points | List |
---|---|---|
Year 2024 | 100 | Ministry scored journals list 2024 |
Year | Points | List |
---|---|---|
2024 | 100 | Ministry scored journals list 2024 |
2023 | 100 | Ministry Scored Journals List |
2022 | 100 | Ministry Scored Journals List 2019-2022 |
2021 | 100 | Ministry Scored Journals List 2019-2022 |
2020 | 100 | Ministry Scored Journals List 2019-2022 |
2019 | 100 | Ministry Scored Journals List 2019-2022 |
2018 | 40 | A |
2017 | 40 | A |
2016 | 35 | A |
2015 | 40 | A |
2014 | 35 | A |
2013 | 35 | A |
2012 | 35 | A |
2011 | 35 | A |
2010 | 27 | A |
Model:
Open Access
Points CiteScore:
Year | Points |
---|---|
Year 2023 | 10.6 |
Year | Points |
---|---|
2023 | 10.6 |
2022 | 13.3 |
2021 | 13 |
2020 | 10.8 |
2019 | 6.9 |
2018 | 7.7 |
2017 | 7.1 |
2016 | 6.5 |
2015 | 4.9 |
2014 | 4.5 |
2013 | 4.9 |
2012 | 4.9 |
2011 | 5.7 |
Impact Factor:
Log in to see the Impact Factor.
Sherpa Romeo:
Papers published in journal
Filters
total: 2
Catalog Journals
Year 2008
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
PublicationMikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
Publication
seen 785 times