Wyszukiwarka
ISSN:
1468-6996
eISSN:
1878-5514
Dyscypliny:
- inżynieria biomedyczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria chemiczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria materiałowa (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- inżynieria mechaniczna (Dziedzina nauk inżynieryjno-technicznych)
- biologia medyczna (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
- nauki farmaceutyczne (Dziedzina nauk medycznych i nauk o zdrowiu)
- biotechnologia (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- nauki chemiczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
- nauki fizyczne (Dziedzina nauk ścisłych i przyrodniczych)
Punkty Ministerialne: Pomoc
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| Rok 2024 | 100 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| Rok | Punkty | Lista |
|---|---|---|
| 2024 | 100 | Ministerialna lista czasopism punktowanych 2024 |
| 2023 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych 2023 |
| 2022 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2021 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2020 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2019 | 100 | Lista ministerialna czasopism punktowanych (2019-2022) |
| 2018 | 40 | A |
| 2017 | 40 | A |
| 2016 | 35 | A |
| 2015 | 40 | A |
| 2014 | 35 | A |
| 2013 | 35 | A |
| 2012 | 35 | A |
| 2011 | 35 | A |
| 2010 | 27 | A |
Model czasopisma:
Open Access
Punkty CiteScore:
| Rok | Punkty |
|---|---|
| Rok 2023 | 10.6 |
| Rok | Punkty |
|---|---|
| 2023 | 10.6 |
| 2022 | 13.3 |
| 2021 | 13 |
| 2020 | 10.8 |
| 2019 | 6.9 |
| 2018 | 7.7 |
| 2017 | 7.1 |
| 2016 | 6.5 |
| 2015 | 4.9 |
| 2014 | 4.5 |
| 2013 | 4.9 |
| 2012 | 4.9 |
| 2011 | 5.7 |
Impact Factor:
Zaloguj się aby zobaczyć Współczynnik Impact Factor dla tego czasopisma
Sherpa Romeo:
Prace opublikowane w tym czasopiśmie
Filtry
wszystkich: 2
Katalog Czasopism
Rok 2008
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
PublikacjaMikroskopia sił atomowych jest uniwersalną techniką obrazowania powierzchni podczas gdy spektroskopia impedancyjna jest fundamentalną metodą charakteryzowania właściwości elektrycznych materiałów. Z powyższego względu użyteczne jest połączenie powyższych technik dla uzyskania przestrzennego rozkładu wektora impedancji. W pracy autorzy proponują nowe podejście polegające na połączeniu multiczęstotliwościowego pomiaru impedancyjnego...
-
Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy
Publikacja
wyświetlono 783 razy