Application of dynamic impedance spectroscopy to atomic force microscopy

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Kategoria:: Publikacja w czasopiśmie
Typ:: Publikacja w czasopiśmie
Opublikowano w:: SCIENCE AND TECHNOLOGY OF ADVANCED MATERIALS nr 9, wydanie 4,
ISSN: 1468-6996
ISSN:: 1468-6996
Rok wydania:: 2008
DOI:: Cyfrowy identyfikator dokumentu elektronicznego (otwiera się w nowej karcie) 10.1088/1468-6996/9/4/045006
Weryfikacja:: Brak weryfikacji

wyświetlono 110 razy

Wyszukiwarka