Search
Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach.
Abstract
Przedstawiono procedurę samotestowania sieci analogowo-cyfrowych mikrosystemów elektronicznych opartych na mikrokontrolerach. Algorytm ten bazuje na metodzie 2D lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych. Składa się z części przedtestowej, w której tworzy się słownik uszkodzeń na komputerze PC i testowej zaimplementowanej w programie mikrokontrolera, która to dokonuje detekcji i lokalizacji pojedynczych uszkodzeń parametrycznych.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2 strony 215 - 220
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Czaja Z.: Algorytm diagnostyczny na potrzeby samotestowania mikrosystemów analogowo-cyfrowych opartych na mikrokontrolerach. // MWK´2003. VI Szkoła - Konferencja. Metrologia wspomagana komputerowo.T.2/ Warszawa: Wydz. Elektron. WAT, 2003, s.215-220
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 78 times