Evaluation of selected diagnostic variables for the purpose of assessing the ageing effects in high-power IGBTs

Wojciech Śleszyński; Janusz Nieznański; Artur Cichowski; Jarosław Łuszcz; Andrzej Wojewódka

doi:10.1109/isie.2010.5637327

Evaluation of selected diagnostic variables for the purpose of assessing the ageing effects in high-power IGBTs

Abstract

Przedstawiono metodę wyznaczania dwóch wskaźników diagnostycznych, które mogą być używane do oceny zużycia modułów IGBT dużej mocy. Proponowane podejście jest próbą zaadaptowania znanej z literatury metody laboratoryjnej do pracy bezpośrednio w układzie napędowym pojazdu trakcyjnego. Rozważane wskaźniki diagnostyczne to rezystancja cieplna między półprzewodnikiem a podstawą modułu oraz napięcie nasycenia kolektor-emiter IGBT. Wskaźniki te mogą być użyte w celu określenia stopnia rozwarstwiania struktury modułu na skutek termomechanicznego zmęczenia stopu lutowniczego oraz uszkodzeń połączeń drutowych wewnątrz modułu. Proponowana metoda została częściowo zweryfikowana eksperymentalnie.

Citations

9

CrossRef
0

Web of Science
1 0

Scopus

Authors (5)

Wojciech Śleszyński dr inż.
- Faculty of Electrical and Control Engineering
- Gdańsk University of Technology
Janusz Nieznański prof. dr hab. inż.
- Faculty of Electrical and Control Engineering
- Gdańsk University of Technology
Artur Cichowski dr inż.
- Faculty of Electrical and Control Engineering
- Gdańsk University of Technology
Jarosław Łuszcz dr hab. inż.
- Faculty of Electrical and Control Engineering
- Gdańsk University of Technology
Andrzej Wojewódka mgr inż.
- Faculty of Electrical and Control Engineering
- Gdańsk University of Technology

Cite as

Full text

full text is not available in portal

full content of the article see on external site open in new tab

Keywords

Details

Category:: Conference activity
Type:: materiały konferencyjne indeksowane w Web of Science
Title of issue:: IEEE International Symposium on Industrial Electronics : (ISIE 2010), Bari, Italy, 4-7 July 2010,[dokument elektroniczny, dane tekstowe] strony 821 - 825
Language:: English
Publication year:: 2010
Bibliographic description:: Śleszyński W., Nieznański J., Cichowski A., Łuszcz J., Wojewódka A..: Evaluation of selected diagnostic variables for the purpose of assessing the ageing effects in high-power IGBTs, W: IEEE International Symposium on Industrial Electronics : (ISIE 2010), Bari, Italy, 4-7 July 2010,[dokument elektroniczny, dane tekstowe], 2010, ,.
DOI:: Digital Object Identifier (open in new tab) 10.1109/isie.2010.5637327
Verified by:: Gdańsk University of Technology