Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools

Zdenek Chobola; Zbynek Ruzicka; Lech Hasse

Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools

Abstract

Praca zawiera wyniki pomiarów DLTS próbek o powierzchni 1 mm2 krzemowych baterii słonecznych wykazujących znaczne niejednorodności wykryte za pomocą metody LBIV (Light Beam Induced Voltage). Wyniki pomiarów charakterystyk stałoprądowych oraz szumowych tych próbek zostały także przedstawione.

Authors (3)

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:: Articles
Type:: artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
Published in:: Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania no. 43, pages 32 - 33,
ISSN: 0033-2089
Language:: English
Publication year:: 2002
Bibliographic description:: Chobola Z., Ruzicka Z., Hasse L.: Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 6 (2002), s.32-33
Verified by:: Gdańsk University of Technology