Wyszukiwarka
Abstrakt
Praca zawiera wyniki pomiarów DLTS próbek o powierzchni 1 mm2 krzemowych baterii słonecznych wykazujących znaczne niejednorodności wykryte za pomocą metody LBIV (Light Beam Induced Voltage). Wyniki pomiarów charakterystyk stałoprądowych oraz szumowych tych próbek zostały także przedstawione.
Autorzy (3)
-
Zdenek Chobola
-
Zbynek Ruzicka
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Publikacja w czasopiśmie
- Typ:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Opublikowano w:
-
Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania
nr 43,
strony 32 - 33,
ISSN: 0033-2089 - Język:
- angielski
- Rok wydania:
- 2002
- Opis bibliograficzny:
- Chobola Z., Ruzicka Z., Hasse L.: Low frequency noise and DLTS as silicon solar cell characterization tools// Elektronika : konstrukcje, technologie, zastosowania. -Vol. 43., nr. 6 (2002), s.32-33
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 93 razy