Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne

Abstract

W artykule przedstawiono zasady, na których oparta jest metoda OLCR, możliwości jej wykorzystania oraz wpływ czynników ograniczających jej zdolności pomiarowe. Zaprezentowano konstrukcję światłowodowego niskokoherencyjnego, reflektometrycznego systemu pomiarowego. Przedstawiono wyniki badań teoretycznych i doświadczalnych wpływu charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w systemie na rozdzielczość pomiaru.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Conference activity
Type:
publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Language:
Polish
Publication year:
2005
Bibliographic description:
Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Maciejewski M., Hypszer R., Kosmowski B., Pluciński J.: Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne // / : , 2005,
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 108 times

Recommended for you

Meta Tags