Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne

Marcin Strąkowski; Małgorzata Szczerska; Maciej Maciejewski; Ryszard Hypszer; Bogdan Kosmowski; Jerzy Pluciński

Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne

Abstrakt

W artykule przedstawiono zasady, na których oparta jest metoda OLCR, możliwości jej wykorzystania oraz wpływ czynników ograniczających jej zdolności pomiarowe. Zaprezentowano konstrukcję światłowodowego niskokoherencyjnego, reflektometrycznego systemu pomiarowego. Przedstawiono wyniki badań teoretycznych i doświadczalnych wpływu charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w systemie na rozdzielczość pomiaru.

Autorzy (6)

Marcin Strąkowski dr inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Małgorzata Szczerska prof. dr hab. inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Maciej Maciejewski
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Ryszard Hypszer dr inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Bogdan Kosmowski dr hab. inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska
Jerzy Pluciński dr hab. inż.
- Wydział Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki
- Politechnika Gdańska

Cytuj jako

Pełna treść

pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu

Słowa kluczowe

Informacje szczegółowe

Kategoria:: Aktywność konferencyjna
Typ:: publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
Język:: polski
Rok wydania:: 2005
Opis bibliograficzny:: Strąkowski M., Jędrzejewska-Szczerska M., Maciejewski M., Hypszer R., Kosmowski B., Pluciński J.: Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne // / : , 2005,
Weryfikacja:: Politechnika Gdańska