Zespół Metrologii i Optoelektroniki

* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

Katedra Geodezji

Katedra Geodezji realizuje zadania związane z geodezją i kartografią, a przede wszystkim w zakresie geodezji inżynieryjnej, fotogrametrii, teledetekcji, gospodarki nieruchomościami, systemów informacji przestrzennej oraz nawigacji i pomiarów GPS. W ramach Katedry Geodezji funkcjonują Zespoły Dydaktyczne związane z przedmiotami i szkoleniami oraz Zespoły Badawczo-Rozwojowe prowadzące prace naukowe i realizacje techniczne we współpracy...

Zespół organicznych ogniw fotowoltaicznych i fotodetektorów

Tematyka badawcza Zespołu OOFiF związana jest z własnościami fotowoltaicznymi wielowarstwowych układów zbudowanych z organicznych i nieorganicznych warstw nanoszonych techniką próżniową lub z roztworu.

Laboratorium Syntezy Innowacyjnych Materiałów i Elementów

Zespół specjalistycznych urządzeń pozwala dokonywać syntezy diamentu mikro- i nanokrystalicznego oraz diamentu domieszkowanego borem i azotem do zastosowań w optoelektronice oraz nanosensoryce. Domieszkowany borem nanodiament (BDD) jest obecnie najwydajniejszym materiałem półprzewodnikowym do zastosowania w wytwarzaniu biosensorów elektrochemicznych. Laboratorium może otrzymywać ciągłe cienkie polikrystaliczne, domieszkowane elektrody...

Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii

Stanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...

FPGA/VHDL