Przedmiotem niniejszej pracy jest optyczna metoda spektroskopii reflektancyjnej do pomiaru in situ grubości warstwy przyściennej w procesie wytłaczania past ceramicznych, którą można stosować bez zakłócania przebiegu procesu. Może ona znaleźć zastosowanie do dostarczania danych w analizie i modelowaniu procesu wytłaczania, a także do kontroli on-line przebiegu procesu produkcyjnego.

Praca porusza problem pomiaru grubości cienkiej warstwy przyściennej -oleju, podczas procesu wyciskania ceramiki modelowej. Szczegółowo opisuje zjawiska fizyczne zachodzące w warstwie przyściennej oraz dynamiczne parametry wykorzystywane do oceny grubości. Autorzy opisują także metodę pomiaru oraz konstrukcję układów pomiarowych.

Transiluminacja tkanek ludzkiego ciała w celach diagnostycznych jest stosowana od ponad stu lat. Metoda transiluminacji w bliskiej podczerwieni z rozpraszaniem zwrotnym (NIRT-BSS) umożliwia ciągłe, bezinwazyjne monitorowanie zmian szerokości przestrzeni podpajęczynówkowej, które może być cennym narzędziem w ocenie zagrożenia obrzękiem mózgu. W rozprawie przedstawiono optyczny model rozchodzenia się promieniowania podczerwonego...

Artykuł zawiera główne wnioski z badań doktorskich koncentrujących się na występującej sieci powiązań w trójkącie: przedsiębiorstwa wysokiej technologii- nauka- regionalne i lokalne władze publiczne na Mazowszu. W wyniku przeprowadzonych badań w obrębie Obszaru Metropolitarnego Warszawy udało się zidentyfikować quasi-klastry: optyczny i informatyczny wraz ze wskazaniem braków w ich funkcjonowaniu i opisem przewidywanych kierunków...

Przedstawiono przykład zastosowania techniki elipsometrii monochromatycznej w celu określenia dynamiki wzrostu warstw tlenkowych i wodorotlenkowych na miedzi w środowisku 0.1M NaOH. Badania te stanowią część projektu skupiającego się na oznaczeniu fizycznych i elektrycznych własności tlenku miedzi (I) oraz tlenku miedzi (II) podczas procesu formowania się warstwy. Jednoczesne pomiary elipsometryczne i impedancyjne są nowatorskie...