Search
Abstract
Przedmiotem niniejszej pracy jest optyczna metoda spektroskopii reflektancyjnej do pomiaru in situ grubości warstwy przyściennej w procesie wytłaczania past ceramicznych, którą można stosować bez zakłócania przebiegu procesu. Może ona znaleźć zastosowanie do dostarczania danych w analizie i modelowaniu procesu wytłaczania, a także do kontroli on-line przebiegu procesu produkcyjnego.
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Publication year:
- 2006
- Bibliographic description:
- Graczyk J., Wroczyński P., Bogdanowicz R.: Wytłaczanie past ceramicznych - optyczny monitoring poślizgu przyściennego // Ceramika. Polski Biuletyn Ceramiczny.. -Vol. 91., (2006), s.995-1002
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 109 times
Recommended for you
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
- M. Gnyba,
- M. Kozanecki,
- P. Wroczyński
- + 1 authors
2010
Badanie właściwości fotoelektrycznych cienkich warstw tlenków TiO2:V na zautomatyzowanym stanowisku dla metody obic
- K. Sieradzka,
- A. Bogdan,
- J. Domaradzki
- + 2 authors
2009
Monitoring ramanowski wzrostu cienkich warstw węglowych-studium
- M. Gnyba,
- M. Kozanecki,
- P. Wroczyński
- + 1 authors
2010
Long-working-distance Raman system for monitoring of uPA ECR CVD process of thin diamond/DLC layers growth
- M. Gnyba,
- M. Kozanecki,
- B. Kosmowski
- + 2 authors
2009