Filters
total: 14
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (12)
Search results for: REDUKCJA ZAKŁÓCEŃ
-
Katedra Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki
Research PotentialW Katedrze Elektrotechniki, Systemów Sterowania i Informatyki prowadzone są badania w tematyce podstaw elektrotechniki, zaawansowanych systemów sterowania, prototypowania dedykowanych rozwiązań sprzętowych w FPGA. Prowadzone badania skupiają się również na wykorzystaniu zaawansowanych technik analizy komputerowej w systemach sterowania oraz elektrotechniki.
-
Katedra Automatyki Napędu Elektrycznego i Konwersji Energii
Research Potential* nieliniowe sterowanie maszynami elektrycznymi * napędy elektryczne o sterowaniu bez czujnikowym * sterowanie przekształtnikami energoelektronicznymi, w tym przekształtnikami na średnie napięcia i przekształtnikami sieciowymi * energoelektroniczne układy przetwarzania energii w odnawialnych źródłach energii * projektowanie i badanie falowników i przetwornic * projektowanie układów sterowania mikroprocesorowego z wykorzystaniem...
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Research Potential* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: REDUKCJA ZAKŁÓCEŃ
-
Laboratorium Automatyki Napędu Elektrycznego
Business OfferProgramowalne układy napędowe zasilane przekształtnikowo ze sterowaniem mikroprocesorowym
-
Laboratorium Badawcze 2-3
Business OfferObliczenia komputerowe wymagające dużych mocy obliczeniowych z wykorzystaniem oprogramowania typu: Matlab, Tomlab, Gams, Apros.
Other results Pokaż wszystkie wyniki (7)
Search results for: REDUKCJA ZAKŁÓCEŃ
-
Techniques of interference reduction in probe system for wafer level noise measurements of submicron semiconductor devices.
PublicationPrzedstawiono skrótowo system do ostrzowych pomiarów szumów struktur submikronowych. Znaczny wpływ na pomiary ostrzowe mają zakłócenia i szumy własne systemu, zwłaszcza zakłócenia o wysokim poziomie wpraowadzane przez ostrza (fluktuacje rezystancji styków ostrza do struktury powodowane przez wibracje i udary mechaniczne w środowisku pomiarowym)i środowisko elektromagnetyczne. Zakłócenia okresowe powodowane przez wibracje i pola...
-
Cyfrowy system rejestracji i rekonstrukcji sygnału mowy dla potrzeb Lotnictwa Wojskowego.
PublicationW referacie przedstawiono ogólną charakterystykę opracowanego systemu rejestracji i rekonstrukcji sygnału mowy. Zamieszczono opis poszczególnych składników systemu, które stanowi zestaw zaawansowanych narzędzi do rejestracji, analizy i rekonstruowania mowy, zrealizowany w formie oprogramowania komputerowego. Narzędzia te pozwalają na szybkie wyszukiwanie pożądanych fragmentów nagrań oraz poprawę ich jakości na drodze redukcji szumów,...
-
A system for multitask noisy speech enhancement.
PublicationW artykule przedstawiono ogolną charakterystyke opracowanego systemu rejestracji i rekonstrukcji mowy. Artykuł zawiera opis składników systemu, ktory jest oprogramowaniem zawierającym zaawansowane narzędzia służące poprawie zrozumiałości mowy. Zaimplementowane narzędzia systemu umożliwiają wyszukiwanie nagrań dźwiękowych i ich obróbkę przy pomocy zaimplementowanych pluginów. W artykule przedstawione wykorzystane w systemie algorytmy...
-
Multitask Noisy Speech Enhancement System
PublicationW referacie opisano Wielozadaniowy System Poprawy Jakości Sygnału Mowy. Jest to wyspecjalizowany pakiet oprogramowania przeznaczony do rejestrowania sygnału mowy i do poprawy jego jakości oraz zrozumiałości mowy, przy użyciu zaawansowanych procedur cyfrowego przetwarzania sygnału. Pakiet oprogramowania składa się z programów: Rejestrator, Przeglądarka oraz Rekonstruktor. Oprogramowanie to może być użyte w przypadkach, gdy zrozumiałość...
-
Zakłócenia w pomiarach ostrzowych struktur półprzewodnikowych
PublicationW artykule opisano podstawowe źródła zakłóceń występujących w pomiarach struktur elementów metodami ostrzowymi oraz podstawowe sposoby zmniejszania ich wpływu na wyniki pomiarów.