Filters
total: 107
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (84)
Search results for: SZUMY 1/F A NIEZAWODNOŚĆ
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Multimedialnych
Research Potential* technologie archiwizacji, rekonstrukcji i dostępu do nagrań archiwalnych * technologie inteligentnego monitoringu wizyjnego i akustycznego * multimedialne technologie telemedyczne * multimodalne interfejsy komputerowe
-
Zespół Systemów Mikroelektronicznych
Research Potential* projektowania I optymalizacji układów i systemów mikroelektronicznych * zaawansowane metody projektowania i optymalizacji analogowych filtrów aktywnych * programowanie układów scalonych (FPGA, CPLD, SPLD, FPAA) * układy specjalizowane ASIC * synteza systemów o małym poborze mocy * projektowanie topografii układów i zagadnień kompatybilności elektromagnetycznej * modelowania przyrządów półprzewodnikowych * modelowania właściwości...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (23)
Search results for: SZUMY 1/F A NIEZAWODNOŚĆ
-
Laboratorium Diagnostyki Silników i Sprężarek Tłokowych
Business OfferIdentyfikacja stanu technicznego głównych układów funkcjonalnych silników spalinowych i sprężarek w oparciu o wyniki badań diagnostycznych.
-
Laboratorium Fizyki Zderzeń Elektronowych
Business OfferBadania oddziaływań nisko- i średnio-energetycznych elektronów z atomami i drobinami wieloatomowymi w różnych stanach skupienia
-
Laboratorium Maszyn i Systemów Okrętowych
Business OfferBadania procesów i zjawisk w czasie realizacji obiegu roboczego w silniku z zapłonem samoczynnym dla potrzeb diagnostyki maszyn tłokowych.
Other results Pokaż wszystkie wyniki (176)
Search results for: SZUMY 1/F A NIEZAWODNOŚĆ
-
Quality assessments of electrochromic devices: the possibleuse of 1/f current noise
PublicationElementy wykorzystujące zjawisko elektrochromizmu, potrafiące zmieniać przezroczystość za pomocą ładowania/rozładowania ładunkiem elektrycznym, wykonano na bazie laminatów pokrytych porowatą strukturą tlenków Ni oraz tlenków Wi-V. Oba laminaty, na które naniesiono przewodzącą warstwę In2O3, przedzielono warstwą elektrolitu. Obserwowano szumy typu 1/f w prądzie I płynącym w trakcie rozładowywania urządzenia. Gęstość widmowa mocy...
-
Alicja Konczakowska prof. dr hab. inż.
People -
Low-frequency current noise in electrochromic devices
PublicationObserwowano szumy typu 1/f w elemencie wykazującym zjawisko elektrochromizmu - zmiany swoich parametrów optycznych (przezroczystości) pod wpływem przyłożonego napięcia. Element składał się z porowatej warstwy nanocząstek WO3 oraz tlenku Ni-V. Obserwowano gęstość widmową mocy prądu szumów, która zalezała liniowo od kwadratu prądu stałego I płynącego przez element. Stwierdzono, że intensywne przełączanie elementu między trybem przezroczystym...
-
Metody usuwania zakłóceń podczas pomiarów polowych widm Ramana
PublicationW pracy zostały scharakteryzowane źródła zakłóceń występujące podczas pomiarów widm Ramana w warunkach polowych. Zaprezentowano wpływ czasu integracji na jakość rejestrowanych widm w przypadkach, gdy szumy własne spektrometru mają składową typu 1/f, dominującą w zakresie małych częstotliwości. Przedstawiono także wyniki uzyskane podczas pomiarów z detekcją synchroniczną, stosowaną w przenośnych spektrometrach Ramana, w pomiarach...
-
Metody zwiększenia czułości dwukanałowego systemu pomiaru szumów.
PublicationZnajomość właściwości szumowych elementów elektronicznych w zakresie małych częstotliwości, gdzie dominują szumy o widmie typu 1/f, stanowi efektywne narzędzie oceny jakości procesu technologicznego wytwarzania tych elementów oraz predykcji ich niezawodności. Przeprowadzenie dokładnych pomiarów parametrów i charakterystyk szumowych stwarza jednak często wiele problemów.