Search
Filters
total: 82
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (72)
Search results for: SZUMY WŁASNE UKŁADU POMIAROWEGO
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Research Potential* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
-
Zespół Systemów Multimedialnych
Research Potential* technologie archiwizacji, rekonstrukcji i dostępu do nagrań archiwalnych * technologie inteligentnego monitoringu wizyjnego i akustycznego * multimedialne technologie telemedyczne * multimodalne interfejsy komputerowe
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (10)
Search results for: SZUMY WŁASNE UKŁADU POMIAROWEGO
-
Laboratorium Fizyki i Elektrodynamiki
Business OfferPodstawowe zjawiska fizyczne i informatyczne systemy rozproszone
-
Laboratorium Źródeł Energii w Katedrze Konwersji i Magazynowania Energii
Business Offer -
Ośrodek Doświadczalny
Business OfferRealizacje zadań z zakresu obronności i bezpieczeństwa państwa.
Other results Pokaż wszystkie wyniki (75)
Search results for: SZUMY WŁASNE UKŁADU POMIAROWEGO
-
Ocena jakości elementów elektronicznych na podstawie szumów 1/f.
PublicationWe wszystkich elementach występują samoistne źródła szumów, a przebiegi szumowe są zazwyczaj traktowane jako sygnały niepożądane. Szum elementów elektronicznych może być jednak traktowany jako sygnał związany z jakością badanego elementu. Przedstawiono szumy własne elementów elektronicznych jako dwie składowe: szumy naturalne i szumy nadmiarowe. Omówiono powiązania tych składowych z jakością elementów. Przytoczono parametry...
-
A method of two-terminal excess noise measurement with a reduction of measurement system and contact noise
PublicationPrzedstawiono metodę i system do pomiaru szumów nadmiarowych dwójników elektrycznych ze znaczną redukcją wpływu szumów własnych systemu pomiarowego i szumów kontaków. Proponowana metoda może byc zastosowana do pomiaru szumów elementów z wyprowadzonymi końcówkami, bądź też struktur, gdy jako wzorcowy szum odniesienia może zostać zastosowany szum struktury rezystywnej wytworzonej bezpośrednio na strukturze w otoczeniu elementu testowanego.
-
Metody usuwania zakłóceń podczas pomiarów polowych widm Ramana
PublicationW pracy zostały scharakteryzowane źródła zakłóceń występujące podczas pomiarów widm Ramana w warunkach polowych. Zaprezentowano wpływ czasu integracji na jakość rejestrowanych widm w przypadkach, gdy szumy własne spektrometru mają składową typu 1/f, dominującą w zakresie małych częstotliwości. Przedstawiono także wyniki uzyskane podczas pomiarów z detekcją synchroniczną, stosowaną w przenośnych spektrometrach Ramana, w pomiarach...
-
Nowe rozwiązanie przetwornika prądu w diagnostyce prądowej silników idukcyjnych
PublicationWadą praktycznie wszystkich opublikowanych systemów do diagnostyki łożysk metodą pomiaru prądu zasilającego w silniku indukcyjnym jest niska jakość układów do pomiaru prądu. W prezentowanej pracy jako przetwornik prądu na napięcie zaproponowano transformator o wysokich parametrach, pracujący z przetwarzaniem prądu na napięcie. W referacie zostaną przedstawione wyniki badań przetwornika, które potwierdziły oczekiwane parametry -...
-
Metody usuwania zakłóceń podczas pomiarów polowych widm Ramana
PublicationW pracy zostały scharakteryzowane źródła zakłóceń występujące podczas pomiarów widm Ramana w warunkach polowych oraz sposoby redukcji ich wpływu na jakość rejestrowanych widm. Zaprezentowano wpływ czasu integracji na jakość rejestrowanych widm w przypadkach, gdy szumy własne spektrometru mają składową typu 1/f, dominującą w zakresie małych częstotliwości. Przedstawiono także wyniki uzyskane podczas pomiarów z detekcją synchroniczną,...