Search results for: emulator uszkodzen

Search results for: emulator uszkodzen

Found little results, maybe try searching with alternative method.

Filters

total: 2

Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential
- Department of Metrology and Optoelectronics
* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Zespół Katedry Konstrukcji Betonowych
Research Potential
- Department of Concrete Structures
Zagadnienia badawcze realizowane w Katedrze Konstrukcji Betonowych obejmują głównie tematykę zjawisk zachodzących w betonie i stali oraz mechanizmów pracy elementów i konstrukcji żelbetowych. Dzięki odpowiednio wyposażonemu laboratorium Katedra posiada możliwość prowadzenia badań elementów konstrukcyjnych oraz materiałów budowlanych. Pracownicy Katedry posiadają szeroką wiedzę i doświadczenie dotyczące konstrukcji budowlanych,...

Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych
Publication
- W. Toczek
- Przegląd Elektrotechniczny - Year 2011
W artykule przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujący na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urządzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...
Emulator analogowych uszkodzeń parametrycznych w programowalnym systemie jednoukładowym
Publication
- W. Toczek
- Year 2011
W referacie przedstawiono emulator uszkodzeń analogowych bazujacy na mikrosystemie jednoukładowym. Użycie struktur programowalnych znacznie ułatwia wprowadzanie uszkodzeń parametrycznych pojedynczych i wielokrotnych w szerokim zakresie zmian wartości parametrów. Urzadzenie służy do wspomagania badań w zakresie testowania zorientowanego na uszkodzenia. Mechanizm dynamicznej rekonfiguracji układu obniża koszty i przyspiesza eksperymentalną...