Search
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (4)
Search results for: microcontrollers
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Research PotentialSpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
-
Zespół Systemów Geoinformatycznych
Research PotentialW katedrze prowadzone są badania naukowe w zakresie szeroko rozumianych Systemów Informacji Geograficznej (GIS). Tematyka badań obejmuje zastosowanie GIS w technologiach bezpieczeństwa, wizualizacje i analizy przestrzenne, systemy numerycznego prognozowania pogody, technologie nawigacji w ramach mobilnych systemów informacji przestrzennej, oraz zaawansowane techniki obrazowania satelitarnego. Katedra kontynuuje również badania...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (33)
Search results for: microcontrollers
-
A random signal generation method for microcontrollers with DACs
PublicationA new method of noise generation based on software implementation of a 7-bit LFSR based on a common polynomial PRBS7 using microcontrollers equipped with internal ADCs and DACs and a microcontroller noise generator structure are proposed in the paper. Two software applications implementing the method: written in ANSI C and based on the LUT technique and written in AVR Assembler are also proposed. In the method the ADC results are...
-
Measurement method for capacitive sensors for microcontrollers based on a phase shifter
PublicationA complete measurement method dedicated to capacitive sensors has been developed. It includes the development of hardware (an analogue interface circuit for microcontrollers with built-in times/counters and analogue comparators) and software (a measurement procedure and a systematic error calibration (correction) algorithm which is based on a calibration dictionary). The interface circuit consists of a low-pass filter and a phase...
-
Simple Measurement Method for Resistive Sensors Based on ADCs of Microcontrollers
PublicationA new, complete measurement method for resistance measurement of resistive sensors for systems based on microcontrollers equipped with analog-to-digital converters (ADCs) is proposed. The interface circuit consists of only four resistors, including a resistive sensor and a reference resistor, connected directly to the microcontroller pins. It is activated only during measurements, which significantly reduces power consumption....
-
A diagnosis method of analog parts of mixed-signal systems controlled by microcontrollers.
PublicationPrzedstawiono nową klasę K-D metod diagnostyki analogowych części mieszanych sygnałowo mikrosystemów bazujących na mikrokontrolerach. Metody składają się z trzech etapów: etapu przedtestowego tworzenia słownika uszkodzeń, etapu pomiarowego bazujacego na pomiarach próbek napięcia odpowiedzi układu analogowego na pobudzenie impulsem prostokątnym wykonywanych przez wewnętrzne zasoby mikrokontrolera i z etapu detekcji i lokalizacji...
-
A method of self-testing of an analog circuit terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers
PublicationA new self-testing method of analog parts terminated by an ADC in electronic embedded systems controlled by microcontrollers is presented. It is based on a new fault diagnosis method based on on-line (i.e. during measurement), transformations of voltage samples of the time response of a tested part to a square pulse - onto localization curves placed in the measurement space. The method can be used for fault detection and single...