Search results for: mikrokontrolery

Search results for: mikrokontrolery

Found little results, maybe try searching with alternative method.

Filters

total: 3

Zespół Mechatroniki
Research Potential
- Faculty of Mechanical Engineering
Nadzorowanie systemów i procesów dynamicznych, ze szczególnym uwzględnieniem: 1) procesów obróbki mechanicznej, 2) dynamiki i sterowania maszyn (w tym, robotów stacjonarnych i mobilnych), 3) przemysłowych instalacji paliwowych, 4) niezawodności środków transportu, 5) rozwiązań innowacyjnych w gospodarce, 6) biomechaniki szczęki
Zespół Systemów Geoinformatycznych
Research Potential
- Department of Geoinformatics
W katedrze prowadzone są badania naukowe w zakresie szeroko rozumianych Systemów Informacji Geograficznej (GIS). Tematyka badań obejmuje zastosowanie GIS w technologiach bezpieczeństwa, wizualizacje i analizy przestrzenne, systemy numerycznego prognozowania pogody, technologie nawigacji w ramach mobilnych systemów informacji przestrzennej, oraz zaawansowane techniki obrazowania satelitarnego. Katedra kontynuuje również badania...
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential
- Department of Metrology and Optoelectronics
* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR

mikrokontrolery stm8s - pierwsze kroki (2)
Publication
- M. Galewski
- Year 2012
Artykuł zawiera drugą część krótkiego kursu programowania mikrokontrolerów STM8S
Mikrokontrolery STM8S - pierwsze kroki (1)
Publication
- M. Galewski
- Year 2012
Artykuł zawiera pierwszą część krótkiego kursu programowania mikrokontrolerów STM8S
Wykorzystanie przetworników A/C wbudowanych w mikrokontrolery do pomiarów parametrów sygnałów zmiennych
Publication
- Z. Czaja
- Przegląd Elektrotechniczny - Year 2010
Przedstawiono nową metodę pomiaru parametrów przebiegów sinusoidalnych, takich jak okres, amplituda i napięcie offsetu, opracowaną dla elektronicznych systemów wbudowanych sterowanych mikrokontrolerami. Ideą metody jest utworzenie z wewnętrznych pomiarowych urządzeń peryferyjnych mikrokontrolera (liczników, przetworników A/C i komparatorów analogowych) rekonfigurowanych mikrosystemów pomiarowych cechujących się dużą elastycznością...

Full text to download in external service
Mikroprocesory i Mikrokontrolery 2022/2023
e-Learning Courses
- M. Kokot
- G. Lentka
studia I stopnia sem. 4 kierunek EiT
Mikroprocesory i mikrokontrolery - laboratorium - 2022/2023
e-Learning Courses
- A. Szewczyk
- M. Kokot
- G. Lentka
sem. 5 studiów I stp. (inż) kierunek EiT podkierunek Elektronika