Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: reflektometria niskokoherentna
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
Other results Pokaż wszystkie wyniki (9)
Search results for: reflektometria niskokoherentna
-
Koherentna tomografia optyczna wykorzystująca źródło o przestrajalnej długości fali.
PublicationOptyczne metody pomiarowe odgrywają w ostatnich latach coraz większą rolę w badaniach i diagnostyce medycznej. Mają one szereg zalet, do których zaliczyć można odporność na promieniowanie elektromagnetyczne, bezinwazyjność,bezpieczeństwo pomiaru oraz wysoką rozdzielczość. Jedną z najważniejszych technik stosowanych w diagnostyce medycznej jest koherentna tomografia optyczna (OCT). Jest to wysokorozdzielcza metoda obrazowania...
-
Ultrahigh-resolution detection techniques for biomedical applications of optical coherent tomography.
PublicationOptyczne metody pomiarowe odgrywają w ostatnich latach coraz większą rolę w badaniach i diagnostyce medycznej. Mają one szereg zalet, do których zaliczyć można odporność na promieniowanie elektromagnetyczne, bezinwazyjność, bezpieczeństwo pomiaru oraz wysoką rozdzielczość. Jedną z najważniejszych technik stosowanych w diagnostyce medycznej jest koherentna tomografia optyczna (OCT). Jest to wysokorozdzielcza metoda obrazowania wewnętrznych...
-
Measurement of selected characteristics of low-coherence optical signal sources for optical coherence tomography
PublicationOCT to nowa metoda badania wewnętrznych struktur materiałów. Wśród wielu technik detekcji sygnału optycznego wykorzystywanych w OCT najpopularniejszą i najbardziej obiecującą jest OLCR (Opticla-Low Coherence Reflectomerty - reflektometria niskokoherentna). OLCR wykorzystuje szerokopasmowe źródła, których parametry, jak np.: charakterystyka widmowa, charakterystyka szumowa, determinują właściwości metrologiczne systemu OCT. W artykule...
-
Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
PublicationW artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.
-
Wpływ charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w technice OLCR na jej właściwości metrologiczne
PublicationW artykule przedstawiono zasady, na których oparta jest metoda OLCR, możliwości jej wykorzystania oraz wpływ czynników ograniczających jej zdolności pomiarowe. Zaprezentowano konstrukcję światłowodowego niskokoherencyjnego, reflektometrycznego systemu pomiarowego. Przedstawiono wyniki badań teoretycznych i doświadczalnych wpływu charakterystyk szerokopasmowych źródeł wykorzystywanych w systemie na rozdzielczość pomiaru.