Search
Filters
total: 29
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (26)
Search results for: rozdzielczosc
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Systemów Geoinformatycznych
Research PotentialW katedrze prowadzone są badania naukowe w zakresie szeroko rozumianych Systemów Informacji Geograficznej (GIS). Tematyka badań obejmuje zastosowanie GIS w technologiach bezpieczeństwa, wizualizacje i analizy przestrzenne, systemy numerycznego prognozowania pogody, technologie nawigacji w ramach mobilnych systemów informacji przestrzennej, oraz zaawansowane techniki obrazowania satelitarnego. Katedra kontynuuje również badania...
-
Zespół Systemów Automatyki
Research PotentialW dziedzinie dydaktyki, przez wszystkie lata istnienia, katedra pełniła wiodącą rolę w kształceniu automatyków na wydziale sprawując opiekę nad specjalnościami, których nazwa i przynależność do kierunku studiów zmieniała się kilkakrotnie wraz ze zmianami organizacyjnymi zarówno struktury wydziału jak programu studiów. Ostatecznie, w 1991 roku utworzony został nowy kierunek studiów Automatyka i Robotyka, który pozostaje pod pieczą...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (3)
Search results for: rozdzielczosc
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
-
Środowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych
Business OfferŚrodowiskowe Laboratorium Technologii Bezprzewodowych powstało w ramach realizacji projektu CZT Centrum Zaawansowanych Technologii POMORZE i mieści się w Katedrze Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej na Wydziale Elektroniki, Telekomunikacji i Informatyki Politechniki Gdańskiej. Laboratorium zostało wyposażone w specjalistyczne zaplecze aparaturowe, które w połączeniu z kompetencjami naukowymi i technologicznymi kadry pozwala na...
-
Pracownia Fotogrametrii i Teledetekcji Niskiego Pułapu
Business OfferW pracowni prowadzone są badania naukowe oraz zajęcia dydaktyczne z zakresu fotogrametrii cyfrowej i teledetekcji, szczególnie z niskiego pułapu czyli z bezzałogowych statków powietrznych. W ramach działań pracowni prowadzone są pomiary terenowe z użyciem nowoczesnych technik pomiarowych i bezzałogowych statków powietrznych, szkolenie lotnicze operatorów bezzałogowych statków powietrznych. Prace kameralne realizowane są na nowoczesnym...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (78)
Search results for: rozdzielczosc
-
Wyznaczanie rozdzielczości pomiarów widm Ramana
PublicationOpisano parametry wpływające na rozdzielczość pomiarów widm Ramana. Następnie przedstawiono sposób wyznaczania rozdzielczości dla przykładowego układu spektrometru, wykorzystywanego w projekcie badawczym budowy przenośnego spektrometru Ramana. Wyniki analizy przeprowadzonej na podstawie prążków występujących w kilku pomierzonych widmach potwierdziły zgodność obliczeń z obserwowaną rozdzielczością pomiarów w przedziale 8,5-10,5...
-
Poprawa rozdzielczości pomiarów TDOA w radionawigacyjnym odbiorniku DS-CDMA
PublicationReferat przedstawia propozycję poprawy rozdzielczości pomiaru różnic czasów nadejścia sygnałów (TDOA) w odbiorniku DS-CDMA do celów radiolokalizacyjnych i radionawigacyjnych przy użyciu pętli śledzenia fazy ciągu rozpraszającego wykorzystującej filtry ułamkowoopóźniające. Opisana jest budowa i funkcjonowanie proponowanego rozwiązania wraz z wynikami badań laboratoryjnych.
-
Wpływ doboru parametrów źródła na rozdzielczość pomiaru w interferometrii niskokoherencyjnej.
PublicationJednym z podstawowych elementów niskokoherencyjnego, interferometrycznego systemu pomiarowego jest szerokopasmowe źródło światła. Wybór źródła jest bardzo ważny, gdyż jego parametry mają bezpośredni wpływ na końcową jakość pomiaru. Z tego też względu wydaje się niezbędnym poznanie charakterystyk źródeł szerokopasmowych wykorzystywanych w interferometrii niskokoherencyjnej i zależności, pomiędzy parametrami źródła, a jakością pomiaru.
-
Diagnostyka stanu technicznego rurociągów stalowych z wykorzystaniem tłoków ultradźwiękowych wysokiej rozdzielczości
PublicationW pracy przedstawiono wybrane przykłady możliwości pomiarowych ultradźwiękowych tłoków wysokiej rozdzielczości do badania stanu ścianek rurociągów. Przedstawiono techniki zmierzające do precyzyjnej lokalizacji wykrywanych wad oraz opisano znaczenie i metodykę oszacowania trendów rozwojowych wad. Wskazano również na możliwości synergii informacji otrzymywanych różnymi technikami pomiarowymi w oparciu o systemy GIS. Na koniec podano...
-
Diagnostyka stanu technicznego rurociągów stalowych z wykorzystaniem tłoków ultradźwiękowych wysokiej rozdzielczości
PublicationW pracy przedstawiono wybrane przykłady mozliwosci pomiarowych ultradźwiękowych tłoków wysokiej rozdzielczości do badania stanu ścianek rurociągów. Przedstawiono techniki zmierzające do precyzyjnej lokalizacji wykrywanych wad oraz opisano znaczenie i metodykę oszacowania trendów rozwojowych wad. Wskazano również na możliwości synergii informacji otrzymywanych różnymi technikami pomiarowymi w oparciu o systemy GIS. Na koniec podano...