Filters
total: 8
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (7)
Search results for: MIKROPROCESORY
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Katedra Inżynierii Elektrycznej Transportu
Research Potential* Diagnostyka techniczna i monitoring w systemach transportu zelektryfikowanego * Metody diagnostyki technicznej i monitoringu odbieraków prądu oraz górnej sieci trakcyjnej, w szczególności metody wizyjne * Modele matematyczne i symulacyjne odbieraków prądu i górnej sieci trakcyjnej * Modelowanie i analiza elektrotrakcyjnych układów zasilania * Modelowanie i sterowanie napędami elektrycznymi pojazdów * Redukcja zużycia energii...
-
Katedra Metrologii i Systemów Informacyjnych
Research Potential* Diagnostyka silników elektrycznych i magnesów nadprzewodzących * Metody pomiaru impedancji zwarciowej * Zastosowania modulowanych częstotliwościowo sygnałów impulsowych * Pomiary dla diagnostyki medycznej * Ocena niepewności pomiaru * Zastosowanie grafenu do wykrywania elektronicznego
Other results Pokaż wszystkie wyniki (38)
Search results for: MIKROPROCESORY
-
Mikroprocesorowy system sterowania sensorami z inerfejsem USB
PublicationZapotrzebowanie na detekcję gazów oraz zapachów wymaga konstruowania tanich urządzeń o coraz lepszej selektywności i czułości pomiarów. W pracy opisano taki układ pomiarowy, w którym zwiększenie selektywności oraz czułości uzyskano przez pomiar zjawisk fluktuacyjnych w rezystancyjnym czujniku gazów. Opisano sposób pomiaru, wybrany układ pomiarowy oraz projekt i realizację systemu mikroprocesorowego sterującego układem. W zakończeniu...
-
Mikroprocesorowy miernik impedancji pętli zwarciowej eliminujący wpływ odkształcenia napięcia przez regulację argumentu obciążenia pomiarowego
PublicationW artykule przedstawiono problematykę pomiaru impedancji pętli zwarciowej w sieciach o napięciu odkształconym. Zaproponowano metodę pomiaru impedancji pętli eliminującą wpływ odkształcenia napięcia i zbudowano mikroprocesorowy miernik, który ją wykorzystuje. W mierniku zastosowano impedancyjne obciążenie pomiarowe o stałej wartości modułu i regulowanym automatycznie argumencie. Przy zrównaniu argumentu impedancji obciążenia pomiarowego...
-
Mikroprocesorowy miernik impedancji pętli zwarciowej eliminujący wpływ odkształcenia napięcia przez regulację argumentu obciążenia pomiarowego. - [przedruk rek nr 128902]
PublicationW artykule przedstawiono problematykę pomiaru impedancji pętli zwarciowej w sieciach o napięciu odkształconym. Zaproponowano metodę pomiaru impedancji pętli eliminującą wpływ odkształcenia napięcia i zbudowano mikroprocesorowy miernik, który ją wykorzystuje. W mierniku zastosowano impedancyjne obciążenie pomiarowe o stałej wartości modułu i regulowanym automatycznie argumencie. Przy zrównaniu argumentu impedancji obciążenia pomiarowego...
-
Dwa zastosowania procesorów sygnałowych w układach przetwarzania i akwizycji danych
PublicationW ciągu ostatnich kilku lat nastąpił skokowy wzrost liczby aplikacji stosujących mikrokontrolery i mikroprocesory w układach pomiarowych. Ten wzrost dotyczy także zastosowań procesorów sygnałowych, pozwalających na wstępne przetwarzanie rejestrowanych danych w czasie rzeczywistym. Możliwość wstępnego przetwarzania istotnie ogranicza liczbę przechowywanych lub przesyłanych do nadrzędnego komputera parametrów w stosunku do liczby...
-
Miernik elementów RLC na bazie układu ''programmable system On a Chip''
PublicationW artykule zaprezentowano miernik parametrów impedancyjnych oparty na układzie typu ''programmable system On a Chip'' firmy Cypress. Zawiera on w sobie mikroprocesor oraz reprogramowalne bloki analogowe i cyfrowe. Do budowy modelu wykorzystano układ CY8C26443, w którym zaimplementowano metodę pomiaru opartą na dyskretnym przekształceniu Fouriera pozwalającą, na podstawie zebranych próbek napięcia i prądu, wyznaczyć składowe Re...