Filters
total: 3
Best results in : Research Potential Pokaż wszystkie wyniki (2)
Search results for: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENTNA
-
Zespół Metrologii i Optoelektroniki
Research Potential* komputerowo wspomagana metrologia i diagnostyka * projektowanie systemów * mikrosystemów i makrosystemów elektronicznych * testowanie i diagnostyka elektroniczna * pomiary właściwości szumowych i zakłóceń * spektroskopia impedancyjna * telemetria i telediagnostyka internetowa * katedra redaguje Metrology and Measurement Systems * kwartalnik PAN znajdujący się na liście JCR
-
Zespół Inżynierii Mikrofalowej i Antenowej
Research PotentialSpecjalność badawcza KIMiA wiąże się z techniką b.w.cz. i dotyczy zakresu częstotliwości od setek megaherców do kilkudziesięciu gigaherców. Przedmiotem badań teoretycznych (analiza, synteza, symulacja i modelowanie komputerowe,) oraz eksperymentalnych są elementy (prowadnice, sprzęgacze, rozgałęzienia) oraz układy pasywne (cyrkulatory, przesuwniki fazy, obciążenia, tłumiki) i aktywne (wzmacniacze, mieszacze, powielacze, modulatory),...
Best results in : Business Offer Pokaż wszystkie wyniki (1)
Search results for: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENTNA
-
Laboratorium Materiałów Optoelektronicznych Innowacyjnych Materiałów i Displejów – Centrum Zaawansowanych Technologii
Business OfferStanowisko do optycznych nieinwazyjnych badań właściwości i charakteryzacji materiałów i elementów pozwalające na optymalizację technologii ich wytwarzania i rozszerzenie domeny ich zastosowań z wykorzystaniem:; • optycznej tomografii koherentnej – jest to metoda umożliwiająca nieinwazyjne badania cienkich warstw i elementów,; • spektroradiometrii – jest to metoda umożliwiająca badania właściwości displejów, źródeł światła i elementów...
Other results Pokaż wszystkie wyniki (29)
Search results for: REFLEKTOMETRIA NISKOKOHERENTNA
-
Optyczna tomografia niskokoherencyjna wykorzystująca reflektometrię optyczną OTDR.
PublicationW artykule omówiono OCT (optyczną tomografię niskokoherentną) wykorzystującą technikę OLCDR (niskokoherentną reflektometrię optyczną). Określono wpływ parametrów źródeł światła na podłużną i poprzeczną rozdzielczość pomiaru oraz na wartość stsounku sygnał-szum.
-
Optyczna tomografia niskokoherentna w badaniach obiektów technicznych
PublicationW pracy przedstawiono polaryzacyjny system OCT pracujący w dziedzinie czasu z detekcją zrównoważoną do badań obiektów technicznych. Obiektem badań z wykorzystaniem tego systemu były warstwy wykonane z ceramiki PLZT 9/65/35. Mierzone były grubości tych warstw i ich jednorodność.
-
Niskokoherentny, interferometryczny system do badaniawłaściwości materiałów ceramicznych
PublicationPrzedstawiono światłowodowy system dwuwymiarowej wizualizacjiniejednorodnych struktur warstw ceramicznych. Omówiono projekti fizyczną realizację układu wykorzystującego optyczną, niskokoherentną reflektometrię optyczną, która umożliwia nieinwazyjne i bezkontaktowe obrazowanie wewnętrznych struktur różnych materiałówsilnie rozpraszających promieniowanie. Przedstawiono przykładowewyniki pomiarów wewnętrznych warstw ceramiki LSFO....
-
High resolution optical time-domain reflectometry using sub-picosecond laser sources
PublicationPrzedstawiono działanie sensorów światłowodowych wykorzystujących reflektometrię optyczną w dziedzinie czasu. Omówiono ograniczenia możliwości pomiarowych tej klasy sensorów wynikające z zastosowania w nich reflektometrów światłowodowych zaprojektowanych do zastosowań w telekomunikacji. Zaprezentowano sensory wykorzystujące specjalizowane reflektometry o dużej rozdzielczości. Przedstawiono koncepcję sensora wykorzystującego dwa...
-
Badanie niejednorodności warstwy ceramiki PLZT metodami optycznej interferometrii niskokoherentnej
PublicationW artykule omówiono metodę badania wewnętrznej struktury materiałów ceramicznych z wykorzystaniem interferometrii niskokoherentnej. Przedstawiono układ pomiarowy optycznej tomografii koherentnej, wykorzystujący niskokoherentny interferometr do badania niejednorodności występujących w strukturze ośrodków rozpraszających. Zaprezentowano wyniki pomiarów grubości i niejednorodności ceramicznych warstw PLZT. Przeprowadzono rozważania...