Analiza stanu polaryzacji światła w układach optycznej tomografii koherentnej dla badań struktury materiałów optoelektronicznych i mikroelektronicznych - Publication - Bridge of Knowledge

Search

Analiza stanu polaryzacji światła w układach optycznej tomografii koherentnej dla badań struktury materiałów optoelektronicznych i mikroelektronicznych

Abstract

Tematem rozprawy jest analiza stanu polaryzacji światła w optycznej tomografii koherentnej (OCT). Zagadnienie to dotyczy pomiaru stanu polaryzacji światła wsteczne odbitego lub wstecznie rozproszonego przez wewnętrzną strukturę badanego obiektu. Umożliwia to badanie właściwości optycznie anizotropowych materiałów, co pozwala na charakteryzację i rozróżnianie warstw tworzących wewnętrzną strukturę badanego obiektu oraz śledzenie zjawisk zachodzących w jego wnętrzu. Celem badania optycznych właściwości anizotropowych obiektów jest ich diagnostyka i ocena jakości, co pozwoli zweryfikować postawiona w pracy tezę: "Zastosowanie analizy polarymetrycznej w optycznej tomografii koherentnej rozszerza właściwości metrologiczne systemu pomiarowego o badanie anizotropii struktury warstwowej obiektów technicznych, co umożliwi zastosowanie PS-OCT (OCT z analizą stanu polaryzacji) do monitorowania zmian struktury obiektów technicznych".Zakres tematyki obejmuje analizę interferometrii niskokoherentnej oraz niskokoherentnych metod pomiaru stanu polaryzacji światła, opracowanie i implementację rozwiązań w systemie OCT przeznaczonym do badania obiektów niebiologicznych. Na podstawie przeprowadzonych badań wykazano użyteczność analizy stanu polaryzacji światła w optycznej tomografii koherentnej do badania obiektów technicznych o zróżnicowanych właściwościach optycznych. Zakres potencjalnych zastosowań metody obejmuje monitorowanie aktualnego stanu obiektu, diagnostyka, badanie struktury i jakości warstw tworzących obiekt, analizę parametryczną obiektu.

Cite as

Full text

full text is not available in portal

Keywords

Details

Category:
Thesis, nostrification
Type:
praca doktorska pracowników zatrudnionych w PG oraz studentów studium doktoranckiego
Language:
Polish
Publication year:
2010
Verified by:
Gdańsk University of Technology

seen 173 times

Recommended for you

Meta Tags