Search
Abstract
Przedstawiono wyniki badań wielkości mikroziaren ściernych węglika krzemu, elektrokorundu i węglika boru. W badaniach wykorzystano analizator laserowy firmy Fritsch Gmbh. Wyznaczono rozkład prawdopodobieństwa wielkości mikroziaren oraz liczności skumulowanej szeregów rozdzielczych. Scharakteryzowano zasady pomiaru oraz porównano znane metody badania wielkości ziaren.
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Conference activity
- Type:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Title of issue:
- Materiały konferencyjne. VII Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji. strony 9 - 14
- Language:
- Polish
- Publication year:
- 2003
- Bibliographic description:
- Barylski A.: Komputerowa analiza wielkości mikroziaren ściernych.// Materiały konferencyjne. VII Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji. / Warszawa: WAT, 2003, s.9-14
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 54 times