Abstrakt
Przedstawiono wyniki badań wielkości mikroziaren ściernych węglika krzemu, elektrokorundu i węglika boru. W badaniach wykorzystano analizator laserowy firmy Fritsch Gmbh. Wyznaczono rozkład prawdopodobieństwa wielkości mikroziaren oraz liczności skumulowanej szeregów rozdzielczych. Scharakteryzowano zasady pomiaru oraz porównano znane metody badania wielkości ziaren.
Autor (1)
Cytuj jako
Pełna treść
pełna treść publikacji nie jest dostępna w portalu
Słowa kluczowe
Informacje szczegółowe
- Kategoria:
- Aktywność konferencyjna
- Typ:
- publikacja w wydawnictwie zbiorowym recenzowanym (także w materiałach konferencyjnych)
- Tytuł wydania:
- Materiały konferencyjne. VII Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji. strony 9 - 14
- Język:
- polski
- Rok wydania:
- 2003
- Opis bibliograficzny:
- Barylski A.: Komputerowa analiza wielkości mikroziaren ściernych.// Materiały konferencyjne. VII Szkoła Komputerowego Wspomagania Projektowania, Wytwarzania i Eksploatacji. / Warszawa: WAT, 2003, s.9-14
- Weryfikacja:
- Politechnika Gdańska
wyświetlono 93 razy