Search
Abstract
W artykule przedstawiono mikrosystem do pomiarów bardzo dużych impedancji ukierunkowany na identyfikację parametrów powłok antykorozyjnych metodą spektroskopii impedancyjnej. Do wyznaczania składowych ortogonalnych sygnałów pomiarowych zastosowano w nim technikę cyfrowego przetwarzania sygnałów. Pozwoliła ona na uzyskanie szerokiego zakresu częstotliwości pomiarowych, zwłaszcza bardzo niskich, od ćHz, przy zachowaniu prostej konstrukcji zapewniającej niską cenę mikrosystemu. Przedstawiono badania dwu- i czteroelementowych dwójników RC modelujących powłoki antykorozyjne. Pozwoliły one na identyfikację elementów składowych dwójników z dokładnością nie gorszą niż 2% dla elementów rezystorowych i 2-4% dla pojemnościowych w zależności od wpływu sieci bocznikującej.
Authors (3)
Cite as
Full text
full text is not available in portal
Keywords
Details
- Category:
- Articles
- Type:
- artykuły w czasopismach recenzowanych i innych wydawnictwach ciągłych
- Published in:
-
Metrology and Measurement Systems
no. 9,
pages 31 - 44,
ISSN: 0860-8229 - Language:
- English
- Publication year:
- 2002
- Bibliographic description:
- Hoja J., Lentka G., Zielonko R.: Measurement microsystem for high impedance spectroscopy of anticorrosion coatings// Metrology and Measurement Systems. -Vol. 9., nr. 1 (2002), s.31-44
- Verified by:
- Gdańsk University of Technology
seen 68 times